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전자부품 검사 시스템

2005년 11월 01일

특허 제10-0527211호

 2

전자부품 검사장치

2005년 11월 10일

특허 제10-0529404호

 3

이방성 도전 필름용 압흔 검사장치

2006년 01월 27일

특허 제10-0549470호

 4

영상처리장치 및 그 방법

2006년 02월 13일

특허 제10-0553691호

 5

이방성 도전필름의 압흔 검사방법

2006년 04월 05일

특허 제10-0570276호

 6

전자부품 검사방법

2006년 04월 25일

특허 제10-0575896호

 7

전자부품 검사를 위한 장치 및 방법

2006년 09월 12일

특허 제10-0625743호

 8

선별율을 향상하는 조명 장치,전자부품 검사장치 및 전자부품 검사방법

2006년 11월 09일

특허 제10-0646863호

 9

전자부품 검사 시스템

2007년 05월 30일

특허 제10-0725485호

10

평판표시장치의 화질 검사 시스템 및 그 방법

2007년 09월 21일

특허 제10-0763019호

11

라인센서를 갖는 자동초점모듈을 포함하는 압흔 검사용미분간섭 현미경

2007년 11월 26일

특허 제10-0781095호

12

검사 속도와 영역이 증감된 미분간섭현미경

2008년 03월 04일

특허 제10-0812172호

13

포장주화양부감별장치

2008년 04월 18일

특허 제10-0825059호

14

전자부품의 외관 검사장치

2008년 06월 03일

특허 제10-0836832호

15

전자부품의 양면 검사장치

2009년 12월 10일

특허 제10-2008-0007668호

16

압흔검사장치 및 방법

2010년 08월 09일

특허 제10-0975832호

17

LED 검사장치

2011년 01월 13일

특허 제10-1009618호

18

3차원 표면 형상 측정부가 구비되는 압흔 검사 시스템

2012년 01월 26일

특허 제10-1111383호

19

압흔 검사장치

2011년 12월 02일

특허 제10-1091688호

20

정전 유도 흡착식 전자부품 검사 테이블

2012년 08월 07일

특허 제10-1173578호

21

전자부품 자동 선별식 피더

2013년 04월 01일

특허 제10-1251306호

22

단일 광학계를 사용한 COG 접합부 검사장치

2014년 04월 28일

특허 제10-1391666호

 

 1

ELECTRONIC PARTS INSPECTION SYSTEM / TAIWAN

2008년 02월 11일

특허 제1293365호

 2

ELECTRONIC PARTS INSPECTION SYSTEM / JAPAN

2009년 03월 27일

특허 제4282675호

 3

ELECTRONIC PARTS INSPECTION SYSTEM / CHINA

2009년 10월 07일

특허 제200610058243.6호

 4

DENTING INSPECTION APPARATUS AND METHOD THEREOF

2012년 12월 12일

특허 제1097803호

 

특허제10-0725485호

특허제0527211호

특허제0529404호

특허제0553691호

 

특허제100549470호

특허제100570276호

특허제100575896호

특허제100625743호

 

특허제100646863호

특허제100763019호

특허제100781095호

특허제100812172호

 

특허제1293365호

특허제100825059 호

특허제100836832 호

특허제4282675호

 

특허제200610058243.6호

특허제2008-0007668호

특허 제10-0975832호

특허 제10-1009618호

 

특허 제10-11113836호

특허 제10-1091688호

특허 제10-1251306호

특허 제10-1391666호